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Arquivo da tag: multímetros
Empresa de Americana (SP) ganha VRS 565 no sorteio da VeRSis
Em workshop realizado no inicio de outubro pela equipe da VeRSis, Leandro César Faro, representante da empresa SLTex que atua na área têxtil em Americana interior do Estado de São Paulo, foi sorteado com um localizador de defeitos modelo VRS 565. … Continue lendo
Publicado em VRS-565, VRS-575, Workshop
Com a tag área têxtil, Edison Ramalho, Fabiano Banhi, Gilberto Antonio Possa, laboratórios de reparo de placas eletrônicas, Leandro César Faro, multímetros, osciloscópios, rede autorizada, Samsung, SLTex, Técnicas avançadas de localização de defeitos em circuitos eletrônicos, testadores de CIs
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Novo localizador de defeitos da VeRSis é lançado no mercado
O VRS 575 é uma ferramenta avançada, quando o assunto é localizar defeitos em circuitos eletrônicos. Desenvolvida e fabricada no Brasil, é fácil de operar, não há necessidade de conhecimento técnico do circuito e não requer treinamento avançado. Este equipamento … Continue lendo
Publicado em VRS-575
Com a tag Alimentação por fonte externa bivolt, capacitores, centros de reparos, circuitos eletrônicos, CIs, clips para CIs tipo DIP, combinação das impedâncias, Curvas adicionais, Customs, detecção de falhas, diodos, equipamentos eletrônicos, interface USB, Interface USB 2.0, Localizador de Defeitos, medição por pino, Modo Comparação, Modo Memorização, multímetros, osciloscópios, placa desernegizada, pontas de prova, reparos repetitivos, resistores, técnico do circuito, Teste, tipo de placa, VRS-575
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