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Arquivo da tag: CIs
Novo localizador de defeitos da VeRSis é lançado no mercado
O VRS 575 é uma ferramenta avançada, quando o assunto é localizar defeitos em circuitos eletrônicos. Desenvolvida e fabricada no Brasil, é fácil de operar, não há necessidade de conhecimento técnico do circuito e não requer treinamento avançado. Este equipamento … Continue lendo
Publicado em VRS-575
Com a tag Alimentação por fonte externa bivolt, capacitores, centros de reparos, circuitos eletrônicos, CIs, clips para CIs tipo DIP, combinação das impedâncias, Curvas adicionais, Customs, detecção de falhas, diodos, equipamentos eletrônicos, interface USB, Interface USB 2.0, Localizador de Defeitos, medição por pino, Modo Comparação, Modo Memorização, multímetros, osciloscópios, placa desernegizada, pontas de prova, reparos repetitivos, resistores, técnico do circuito, Teste, tipo de placa, VRS-575
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VeRSis apresentará novo produto em workshop
Dia 28 de junho, a VeRSis realizará o workshop gratuito com o tema “Técnicas de localização de defeitos em circuitos eletrônicos” e apresentará o novo produto VRS-575, que é a evolução da tecnologia do localizador de defeitos, com novas características … Continue lendo